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ARTICLES原子層沉積系統(tǒng)ALD:ALD可實(shí)現(xiàn)從傳統(tǒng)的 0D、1D 和 2D 材料到仿生結(jié)構(gòu)和混合材料、多孔模板和具有均勻控制成分和物理化學(xué)性質(zhì)的三維復(fù)雜納米結(jié)構(gòu)。
質(zhì)量檢測(cè)儀:IPS愛(ài)譜斯的電池多路復(fù)用器 BMUX15 最多可以將 15 節(jié)電池切換到一臺(tái)測(cè)量?jī)x器。 通過(guò)比較測(cè)量值,快速安全地檢測(cè)偏差。以檢測(cè)下線電池組焊接過(guò)程的質(zhì)量,并確保電池在組裝過(guò)程中不受機(jī)械應(yīng)力的影響。
電化學(xué)原子力顯微鏡EC-AFM原子力顯微鏡(AFM)有納米級(jí)分辨率成像以及電,磁,熱和機(jī)器性能測(cè)量的能力。
掃描電化學(xué)顯微鏡SECM是一套多功能的SPM掃描探針顯微鏡系統(tǒng),還可以集成SICM,SECCM等多種微區(qū)功能。
掃描離子電導(dǎo)顯微鏡SICM屬于掃描探針顯微鏡,它是一種具有納米級(jí)分辨率的顯微技術(shù)。區(qū)別于其他掃描探針顯微技術(shù), SICM能夠在樣品表面非接觸的條件下獲取樣品表面形貌特性信息,并且SICM對(duì)樣品本身沒(méi)有要求,也不需做任何預(yù)處理。